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高低溫冷熱沖擊試驗箱 半導體循環沖擊箱

發(fa)布(bu)時(shi)間:2023-12-16

訪問次數:107

簡要描述:

高低溫(wen)冷(leng)熱(re)沖(chong)(chong)擊試(shi)驗(yan)箱(xiang) 半導體循(xun)環(huan)沖(chong)(chong)擊箱(xiang)廠家適(shi)用于電子、汽車配件、塑膠等行業(ye),測(ce)試(shi)各種(zhong)材料對高、低溫(wen)的(de)反(fan)復沖(chong)(chong)擊能力。檢測(ce)產(chan)(chan)品(pin)于熱(re)脹(zhang)冷(leng)縮所產(chan)(chan)生的(de)化學變化或物理傷害,確保(bao)產(chan)(chan)品(pin)的(de)品(pin)質(zhi)。

詳(xiang)細介紹(shao)

高低溫冷熱沖擊試驗箱 半導體循環沖擊箱適(shi)用于(yu)電子、汽車配件、塑膠等行業,測試各種材料對高(gao)、低溫的反復(fu)沖擊能力。檢測產品(pin)于(yu)熱脹冷縮所產生的化學變(bian)化或物理傷(shang)害(hai),確保產品(pin)的品(pin)質(zhi)。

為(wei)了保證試驗(yan)箱(xiang)(xiang)降溫(wen)速(su)率(lv)和(he)低溫(wen)度的要求,本試驗(yan)箱(xiang)(xiang)采用(yong)一套進口法國 “泰(tai)康"全封閉壓縮機(ji)所(suo)組成的二元復疊式(shi)風冷(leng)(leng)制(zhi)冷(leng)(leng)系(xi)(xi)統。復疊制(zhi)冷(leng)(leng)系(xi)(xi)統包含一個高(gao)溫(wen)制(zhi)冷(leng)(leng)循環和(he)一個低溫(wen)制(zhi)冷(leng)(leng)循環; *液晶顯(xian)示(shi)(shi)觸(chu)控(kong)式(shi)瑩幕直接按鍵型控(kong)制(zhi)器(qi),中文表示(shi)(shi)7.5"的圖形之廣視角(jiao),高(gao)對比附可調背光功能之大型LCD液晶顯(xian)示(shi)(shi)控(kong)制(zhi)器(qi)。

型號:YHZD-64G   尺寸(cun):400X400X400 MM  -20~+150℃

型號:YHZD-80Z   尺寸:400X500X400 MM  -40~+150℃

型號(hao):YHZD-100D  尺寸(cun):400X500X500 MM  -70~+150℃

型號:YHZD-120Z  尺寸:400X500X600 MM  -40~+150℃

型號:YHZD-150Z  尺(chi)寸:500X500X600 MM  -40~+150℃

型號:YHZD-225Z  尺寸:500X750X600 MM  -40~+150℃
高低溫冷熱沖擊試驗箱 半導體循環沖擊箱主要技術指標:
溫度范圍:高溫箱: +60℃~200℃;
低溫箱: 0℃~-70℃;
溫度波動度:±0.5℃;
溫度均勻:±2℃;
升溫速率:≤5℃/min; (全程平均) 
降溫速率:≤5℃/min;; (全程平均)
預冷下限溫度:≤-70℃;
沖擊溫度:+150~-60℃;
溫度恢復時間: 5min;
溫度轉換時間:8秒以內;
電源:380V±10﹪ 50Hz




 


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