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發(fa)布時間:2023-05-29
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簡要描述:
宇航志達Y-HE-225L高(gao)低溫試驗箱適用于電(dian)(dian)(dian)工、電(dian)(dian)(dian)子、儀(yi)器儀(yi)表(biao)及其它產(chan)品(pin)、零部件(jian)(jian)及材料(liao)在高(gao)低溫交變環境下貯存、運輸、使用時的(de)適應性試驗,是各(ge)類(lei)電(dian)(dian)(dian)子、電(dian)(dian)(dian)工、電(dian)(dian)(dian)器、塑(su)膠等原材料(liao)和器件(jian)(jian)進行耐(nai)寒、耐(nai)熱、耐(nai)干性試驗及品(pin)管工程的(de)可靠(kao)性測試設備,特別適用于光纖(xian)、LCD、晶體、電(dian)(dian)(dian)感、PCB、電(dian)(dian)(dian)池、電(dian)(dian)(dian)腦、手機等產(chan)品(pin)的(de)耐(nai)高(gao)溫、耐(nai)低溫循(xun)環試驗。
宇航志達Y-HE-225L高低溫試驗箱產(chan)品簡介:冷熱沖擊試驗箱(xiang)主要(yao)用于電子(zi)電器零(ling)組(zu)件(jian)、自動(dong)化零(ling)部(bu)件(jian)、通訊組(zu)件(jian)、汽車(che)零(ling)部(bu)件(jian)、金(jin)屬、化學材(cai)料、塑膠等行業,國防工業、航天、兵工業、BGA、PCB基扳、電子(zi)芯片(pian)IC、半導體陶磁(ci)及(ji)高分子(zi)材(cai)料之(zhi)物理牲(sheng)變化,測試其(qi)材(cai)料對高、低溫的(de)反復抵拉力(li)及(ji)產(chan)品于熱脹冷縮產(chan)出的(de)化學變化或(huo)物理傷害,可確認產(chan)品的(de)品質,從(cong)精密(mi)的(de)IC到重機械的(de)組(zu)件(jian),無一不需要(yao)它的(de)理想測試工具(ju)。
宇航志達Y-HE-225L高低溫試驗箱技術參數:
1、型號(hao):Y-HU-150G
2、內箱(xiang)尺寸:寬400×高500×深400mm
3、外形尺寸:寬650×高(gao)1550×深1010mm
4、溫(wen)度范圍(wei):低溫(wen)-70℃~高溫(wen)150℃
5、濕(shi)度范(fan)圍:標準型(20%~98%RH)
6、溫度解析度:0.01℃
7、溫(wen)度(du)波動度(du):≤±0.5℃
8、濕(shi)度(du)波動度(du):≤±2.0%RH
9、溫度(du)均勻度(du):±2.0℃
10、濕(shi)度偏差:75%R.H以下±5.0%RH、75%R.H以上+2.0/-3.0%RH
11、升溫速率:約(yue)1.0℃~3.0℃/min
12、降溫速率:約0.8℃~1.3℃/min
13、電源要求:AC220V/50HZ
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