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發布時間:2023-05-27
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簡要描述:
非標步入式(shi)高(gao)(gao)低溫(wen)老化房該設(she)備(bei)適(shi)用于電工(gong)、電子、儀器儀表(biao)及其(qi)它產品(pin)(pin)、零部件及材料在高(gao)(gao)低溫(wen)交變環境(jing)下貯(zhu)存、運輸、使用時的(de)(de)適(shi)應(ying)性試驗,是各類電子、電工(gong)、電器、塑膠等(deng)原材料和器件進(jin)行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品(pin)(pin)管工(gong)程的(de)(de)可靠性測試設(she)備(bei),特別適(shi)用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦(nao)、手機(ji)等(deng)產品(pin)(pin)的(de)(de)耐高(gao)(gao)溫(wen)、耐低溫(wen)循環試驗。
非標步入式(shi)高(gao)低溫老化房
該設(she)備適(shi)用于電(dian)(dian)(dian)工(gong)(gong)、電(dian)(dian)(dian)子、儀器(qi)儀表及其它產品(pin)、零(ling)部件及材料(liao)在高低溫交變環境下貯(zhu)存、運輸、使用時的(de)適(shi)應性試(shi)(shi)驗(yan),是各類(lei)電(dian)(dian)(dian)子、電(dian)(dian)(dian)工(gong)(gong)、電(dian)(dian)(dian)器(qi)、塑膠等原(yuan)材料(liao)和器(qi)件進行耐寒、耐熱、耐干性試(shi)(shi)驗(yan)及品(pin)管工(gong)(gong)程的(de)可靠(kao)性測試(shi)(shi)設(she)備,特別適(shi)用于光(guang)纖、LCD、晶體、電(dian)(dian)(dian)感、PCB、電(dian)(dian)(dian)池、電(dian)(dian)(dian)腦、手(shou)機等產品(pin)的(de)耐高溫、耐低溫循環試(shi)(shi)驗(yan)。
非標步入式高低溫老化房
八、設備使用條件: 1.環境溫度:5℃~+28℃(24小時內平均溫度≤28℃) 2.環境濕度:≤85%R.H 3.操作(zuo)環(huan)境需要室內通風良(liang)好,機器放置前后左(zuo)右(you)各80公分不可放置東西;
九、符合標準: 嚴格(ge)參照(zhao)GB/T10592-2008、GB/T10586-2006、GB/T2423.1-2008、GB/T2423.2-2008、GB/T2423.3-2006等(deng)相(xiang)關標準設計制造;
十、服務承諾:免(mian)費送貨上門,在(zai)對該(gai)設備安裝(zhuang)調試結(jie)束(shu)后,在(zai)用戶現場對相關技術人員(yuan)免(mian)費做相應的操(cao)作培訓,人數(shu)不限。
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